導(dǎo)電薄膜電阻測量技術(shù)的可靠性研究
隨著濺射技術(shù)、靶材技術(shù)的發(fā)展深入和成熟，使以氧化銦錫透明導(dǎo)電玻璃（ITO玻璃）為代表的導(dǎo)電薄膜材料的制造和應(yīng)用越來越廣泛。ITO玻璃目前是與液晶顯示等平面顯示技術(shù)配套的關(guān)鍵組件。從1987年起至今，ITO玻璃的制造在國內(nèi)已有二十年的歷史。產(chǎn)品已廣泛用于電子手表、計算器、游戲機、移動電話、電腦顯示器、平面電視等消費類產(chǎn)品，以及各種光電儀器設(shè)備和科學(xué)實驗中的透明導(dǎo)電電極等。現(xiàn)在，國內(nèi)已有ITO玻璃生產(chǎn)企業(yè)的單位年生產(chǎn)能力由60萬片提高到了2000萬片。產(chǎn)品也從TN型ITO玻璃，延伸到STN型、觸摸屏、彩色濾光片……眾多品種。
1、導(dǎo)電薄膜材料的檢測參數(shù)
面對越來越大量的導(dǎo)電薄膜材料的生產(chǎn)造，如何保證產(chǎn)品的質(zhì)量？除了要求生產(chǎn)企業(yè)的生產(chǎn)線穩(wěn)定性不斷提高，檢測技術(shù)在此也提供了強有力的支撐作用。
ITO玻璃的產(chǎn)品質(zhì)量檢測包括以下幾個方面：尺寸、方塊電阻、蝕刻性能、ITO膜層耐堿性、光電性能和可靠性等。除尺寸方面的檢測僅與玻璃原片有關(guān)外，其余幾個方面都與ITO玻璃生產(chǎn)的工藝過程有關(guān)。由于國內(nèi)大多數(shù)ITO 玻璃生產(chǎn)企業(yè)自己不生產(chǎn)玻璃原片，所以與生產(chǎn)企業(yè)有關(guān)的ITO 玻璃產(chǎn)品質(zhì)量參數(shù)就是：方塊電阻、蝕刻性能、ITO膜層耐堿性、光電性能和可靠性等。以上幾個參數(shù)是由ITO 玻璃生產(chǎn)的工藝過程所確定，同時各個參數(shù)之間也存在必然的關(guān)聯(lián)�？梢哉f，這幾個參數(shù)中的每一個，都可以是以其余參數(shù)為變量的函數(shù)。事實上，在生產(chǎn)線的技術(shù)條件穩(wěn)定，靶材選擇固定的條件下，檢測以上幾個參數(shù)的任意一個，其結(jié)果都有代表性的意義。所以，我們選取方塊電阻作為經(jīng)常性檢測的參數(shù)。因為對方塊電阻的檢測操作最簡便，檢測成本最低，并且瞬間就可以得到檢測結(jié)果。
2、薄膜電阻的測量原理
薄膜的膜層電阻通常以方塊電阻（或面電阻、薄層電阻）來表示。按照電阻定律：
R = ρ × L/S （1）
式中R 代表樣品電阻，ρ 代表樣品電阻率，L代表電流方向上的樣品長度，S 代表樣品垂直于電流方向上的截面積。
圖1 膜層電阻
可以得出膜層電阻的測量原理如下：如圖1所示，G表示玻璃原片；ITO表示被濺射在玻璃原片上的氧化銦錫膜層；D表示膜層的厚度；I表示平行于玻璃原片表面而流經(jīng)膜層的電流；L1表示在電流方向上被測膜層的長度；L2表示垂直于電流方向上被測膜層的長度。根據(jù)式（1），則膜層電阻R為：
R = ρ×L1/（L2×D） （2）
式中ρ 為膜層材料的電阻率。當（2） 式中L1=L2時，定義這時的膜層電阻R 為膜層的方塊電阻R□：
R□ = ρ/D（單位：Ω/□） （3）
它表示膜層的方塊電阻值僅與膜層材料本身和膜層的厚度有關(guān)，而與膜層的表面積大小無關(guān)。這樣，任意面積的膜層電阻R 的計算，由式（2）和式（3）得出：
R=R□（L1/L2） （單位Ω） （4）
目前在實際的測量中，通常測量的是膜層的方塊電阻。在線檢測的儀器基本上采用“直排四探針”方法對膜層的方塊電阻進行測量。原理如圖2 所示。圖中1、2、3、4 表示四根探針；S表示探針間距；I表示從探針1流入、從探針4流出的電流（單位：mA）；△V表示探針2、3間的電位差(單位：mV)。
圖2、方塊電阻的測量
此時，膜層的方塊電阻R□可表示為：
R□= 4.53×△V／I（單位：Ω/□）（5）
由上式可見，只要在測量時給樣品輸入適當?shù)碾娏鱅，并測出相應(yīng)的電位差△V，即可得出膜層的方塊電阻值。
3、問題的提出
實際上，在ITO玻璃的生產(chǎn)過程中，檢測最多的參數(shù)是ITO玻璃的方塊電阻。根據(jù)在不同崗位的檢測需要，生產(chǎn)企業(yè)分別使用手提式和臺式這兩種方塊電阻測儀。而手提式方塊電阻測試儀相對使用較多。
